Розробка та виготовлення пристрою охолодження оптичного детектора
Ключові слова:
прилад з зарядовим зв’язком, елемент Пельтьє, мікроохолоджувач, оптична система, приймач оптичного випромінюванняАнотація
В роботі подано результати розробки системи термоелектричного охолоджувача за допомогою елементів Пельтьє лінійного приймача оптичного випромінювання на базі приладу з зарядовим зв’язком типу ILX 511 фірми SONY. Крім того, був виготовлений вимірювальний модуль, який складався з вакуумної камери, лінійного детектора ILX 511, елементів Пельтьє, алюмінієвого холодопроводу та температурних сенсорів фірми Honeywell HEL-776A-1000. Керування модулем оптичного детектора здійснювалось за допомогою мікроконтроллеру типу PIC18F4550 та аналого-цифрового перетворювача типу MCP-3208 фірми Microchip.
Посилання
Shostakovskii, P. G. (2010). Termoelektricheskie istochniki al'ternativnogo elektropitaniia. Komponenty i tehnologii, 12 (113), 131−138.
Freik, D. M., Nykyrui, L. I., Krynytskyi, O. S. (2012). Dosiahnennia i problemy termoelektryky. I. Istorychni aspekty (ohliad). Fizyka i khimiia tverdoho tila, 13 (2), 297−318.
Maltezos, G., Johnston, M., Scherer, A. (2005). Thermal management in microfluidics using micro-Peltier junctions. Applied Physics Letters, 87 (15), 154105:1–154105:3. doi:10.1063/1.2089174
Anatychuk, L. I., Semeniuk, V. A. (1992). Optimal'noe upravlenie svoistvami termoelektricheskih materialov i priborov. Chernovtsy: Prut, 263.
Gurevich, Y. G., Logvinov, G. N. (2005). Physics of thermoelectric cooling. Semiconductor Science and Technology, 20 (12), 57–64. doi:10.1088/0268-1242/20/12/r01
Dresselhaus, M. S., Chen, G., Tang, M. Y., Yang, R. G., Lee, H., Wang, D. Z., Gogna, P. et al. (2005). New directions for nanoscale thermoelectric materials research. Pasadena: Jet Propulsion Laboratory, National Aeronautics and Space Administration, 10.
Zharkov, I. P., Ivashchenko, O. M., Rudenko, E. M., Korotash, I. V., Krakovnyy, A. A., Safronov, V. V., Khodunov, V. A., Rudenko А. E. (2013). The Low-Temperature Device for Microwave Non-Destructive Defectoscopy. Nauka Ta Innovacii, 9 (3), 13–18. doi:10.15407/scin9.03.013
Zenin, V. V., Novokreshchenova, E. P., Muhin, K. A., Sharapov, Iu. V. (2011). Ohlazhdenie izdelii mikroelektroniki. Vestnik Voronezhskogo gosudarstvennogo tehnicheskogo universiteta, 7 (12-1), 127–131.
Anatychuk, L. I. (1979). Termoelemeny i termoelektricheskie ustroistva. Kyiv: Naukova dumka, 385.
Vainer, A. L. (1976). Kaskadnye termoelektricheskie istochniki holoda. Moscow: Sovetstkoe radio, 136.
2.7V 4-Channel/8-Channel 12-Bit A/D Converters with SPI Serial Interface. (2008). Microchip. Available at: http://ww1.microchip.com/downloads/en/DeviceDoc/21298e.pdf
2.5V and 4.096V Voltage References. (2012). Microchip. Available at: http://ww1.microchip.com/downloads/en/DeviceDoc/ 21653C.pdf
PIC18F2455/2550/4455/4550 Data Sheet. (2009). Microchip. Available at: http://ww1.microchip.com/downloads/en /DeviceDoc/ 39632e.pdf
Strelkova, A. (2015). Using stable distribution laws during evaluation of signal processing efficiency in optoelectronic systems. Eastern-European Journal of Enterprise Technologies, 2(9(74)), 4−10. doi:10.15587/1729-4061.2015.39950
##submission.downloads##
Опубліковано
Номер
Розділ
Ліцензія
Авторське право (c) 2016 М. Ф. Буланий, О. В. Хмеленко, Є. Г. Плахтій, Н. В. Гаращенко, С. Є. Фесенко
Ця робота ліцензується відповідно до Creative Commons Attribution 4.0 International License.
