Ортогональний амплітудно-фазовий метод вимірювання при проектуванні вихрострумових дефектоскопів на базі мікроконтролерів

Віктор Григорович Баженов, Костянтин Анатолійович Гльойнік, Сергій Васильович Ходневич

Анотація


В даній статті розглянуті особливості використання ортогональних методів вимірювання параметрів сигналів при проектуванні вихрострумових дефектоскопів (ВД) на базі мікроконтролерів. Аналізується запропонована авторами нова структура дефектоскопа, яка має один вимірювальний канал, реалізує ортогональний метод вимірювання, має дуже мале енергоспоживання, малі габарити і відповідну вартість. Проведені  експериментальні дослідження запропонованої структури ВД на спеціальному експериментальному макеті, де за допомогою високоточного синтезатора сигналів SDG102, фірми SIGLENT, проведено імітацією можливих дефектів які можуть призводити як до зміни фази так і амплітуди вимірювального сигналу, що підтвердило високі метрологічні можливості цієї структури.


Ключові слова


вихрострумовий дефектоскоп; ортогональний метод; синтезатор частоти; вихрострумовий перетворювач; прямий синтез; мікроконтролер; DSP процесор; LabVIEW; аналого-цифровий перетворювач; фільтр нижніх частот.

Повний текст:

PDF

Посилання


Pestryakov, V. B. (1968). Fazovye radiotekhnicheskie sistemy (osnovy statisticheskoy teorii). Moscow: Sov. Radio, 468.

Bazhenov, V. H., Hloinik, K. A. (2017). Pat. No. 118164 UA. Vykhrostrumovyi amplitudno-fazovyi sposib neruinivnoho kontroliu. MPK (2017.01) G01N27/01. No. u2017 01264; published: 25.07.2017, Bul. No. 14.

Bazhenov, V., Protasov, A., Gloinik, K. (2017). Increasing of operation speed of digital eddy current defectoscopes based on frequency synthesizer. 2017 IEEE Microwaves, Radar and Remote Sensing Symposium (MRRS). doi: 10.1109/mrrs.2017.8075051

Bazhenov, V. H., Klymashevskaia, V. M., Hloinik, K. A. (2009). Pat. No. 45908 UA. Tsyfrovyi bahatofunktsionalnyi vykhrostrumovyi defektoskop. MPK G01N27/00. published: 25.11.2009, Bul. No. 14.

Uchanin, V. M. (2013). Nakladni vykhrostrumovi peretvoriuvachi podviinoho dyferentsiiuvannia. Lviv: SPOLOM, 268.

Uolt, K. (2010). Proektirovanie sistem cifrovoy i smeshanoy obrabotki signalov. Moscow: Tekhnosfera, 328.

Merfi, E., Sletteri, K. (2005). Vse o sintezatorah DDS. Komponenty i Tekhnologii, 1.

Evstifeev, A. V. (2004). Mikrokontrollery AVR semeystv Tiny i Mega firmy «Atmel». Moscow: Izdatel'skiy dom «Dodeka-ХХI», 560.

Bazhenov, V. H., Hloinik, K. A. (2016). Design features of eddy current flaw detectors on the microcontrollers. Scientific proceedings NDT days 2016 XXХI International Conference «Defectoscopia 16». Sozopol, Bulgaria.

Gerasimov, V. G., Pokrovskiy, A. D., Suhorukov, V. V.; Suhorukov, V. V. (Ed.) (1992). Nerazrushayushchiy kontrol'. Kn. 3. Elektromagnitnyy kontrol'. Moscow: Vysshaya shkola, 312.


Пристатейна бібліографія ГОСТ


Пестряков, В. Б. Фазовые радиотехнические системы (основы статистической теории) [Текст] / В. Б. Пестряков. – М.: Сов. Радио, 1968. – 468 с.

Пат. № 118164 UA. Вихрострумовий амплітудно-фазовий спосіб неруйнівного контролю. МПК (2017.01) G01N27/01 [Текст] / Баженов В. Г., Гльойнік К. А. – № u2017 01264; опубл. 25.07.2017, Бюл. № 14.

Bazhenov, V. Increasing of operation speed of digital eddy current defectoscopes based on frequency synthesizer [Text] / V. Bazhenov, A. Protasov, K. Gloinik // 2017 IEEE Microwaves, Radar and Remote Sensing Symposium (MRRS). – 2017. doi: 10.1109/mrrs.2017.8075051 

Пат. № 45908 UA. Цифровий багатофункціональний вихрострумовий дефектоскоп. МПК G01N27/00 [Текст] / Баженов В. Г., Климашевская В. М., Гльойнік К. А. опубл. – 25.11.2009, Бюл. № 14.

Учанін, В. М. Накладні вихрострумові перетворювачі подвійного диференціювання [Текст] / В. М. Учанін. – Львів: СПОЛОМ, 2013. – 268 с.

Уолт, К. Проектирование систем цифровой и смешаной обработки сигналов [Текст] / К. Уолт. – Москва: Техносфера, 2010. – 328 с.

Мёрфи, Е. Всё о синтезаторах DDS [Текст] / Е. Мёрфи, К. Слэттери // Компоненты и Технологии. – 2005. – № 1.

Евстифеев, А. В. Микроконтроллеры AVR семейств Tiny и Mega фирмы «Atmel» [Текст] / А. В. Евстифеев. – М.: Издательский дом «Додэка-ХХI», 2004. – 560 с.

Bazhenov, V. H. Design features of eddy current flaw detectors on the microcontrollers [Text] / V. H. Bazhenov, K. A. Hloinik // Scientific proceedings NDT days 2016 XXХI International Conference «Defectoscopia 16». – Sozopol, Bulgaria, 2016.

Герасимов, В. Г. Неразрушающий контроль. Кн. 3. Электромагнитный контроль [Текст]: практ. пос. / В. Г. Герасимов, А. Д. Покровский, В. В. Сухоруков; под ред. В. В. Сухорукова. – М.: Высшая школа, 1992. – 312 с.







Copyright (c) 2018 Віктор Григорович Баженов, Костянтин Анатолійович Гльойнік, Сергій Васильович Ходневич

Creative Commons License
Ця робота ліцензована Creative Commons Attribution 4.0 International License.

ISSN 2411-2828 (Online), ISSN 2411-2798 (Print)