Візуалізація дефектів кремнієвих фотоелектричних сонячних батарей
Ключові слова:
дефект, термографія, електролюмінісценція, батарея, інфрачервона, візуалізація, перегрівАнотація
В даній статті вперше вдалось поєднати в одному підході такі різні методи як інфрачервоні термографія та телевізійна мікроскопія для дослідження електролюмінісцентних дефектів. Основою підходу стала ідея нагрівання фотоелектричних сонячних батарей зворотним темновим струмом, в процесі якого і реалізовано візуалізацію дефектів. Застосовані нами методи візуалізації дефектів кремнієвих ФЕСБ базуються на процесі їх нагрівання зворотним темновим струмом. Візуалізація електролюмінісцентних дефектів дозволяє здійснювати контроль на основі ТЗВ.
Посилання
1. Fraunhofer Institute for Solar Energy Systems ISE. Photovoltaics Report. Freiburg, 2012. Available at: www.ise.fraunhofer.de
2. Chamberlin, C. E. Rocheleau, M. A., Marshall, M. W., Reis, A. M., Coleman, N. T., Lehman, P. A. (2011). Comparison of PV module performance before and after 11 and 20 years of field exposure. 37th IEEE PV Specialists Conference, Seattle, WA, 2011. Available at: www.schatzlab.org/docs/2011_IEEE_full-paper-Chamberlin-v3.pdf.
3. Breitenstein, O., Warta, W., Lagenkamp M. (2010). Lock-in Thermography. Basic and Use for Evaluting Electronic Devices and Materials. New York : Springer Heidelberg Dordrecht London, 256.
4. Breitenstein, O. (2011). Nondestructive local analysis of current-voltage characteristics of solar cells by lock-in thermography. Solar Energy Materials & Solar Cells, 95, 2933-2936.
5. Porev, V. A., Pakhalyuk, R. I., Bozhko, K. M. (2014). Research of luminescent defects solar panels. Proceedings of the Academy of Engineering Sciences. A.M. Prokhorov, 1, 11-14.
6. Naumann, V. Hagendorf, C., Grosser, S., Werne, M. (2012). Micro Structural Root Cause Analysis of Potential Induced Degradation in c-Si Solar Cells. Energy Procedia, 27, 1–6.
7. Popov, V. M., Klimenko, A. S., Pokanevich, A. P. (2010). Local properties of electrically active defects in solar cells based on silicon. Technology and design in electronic equipment, 4, 43-48.
##submission.downloads##
Опубліковано
Номер
Розділ
Ліцензія
Авторське право (c) 2014 Р. І. Пахалюк, К. М. Божко
Ця робота ліцензується відповідно до Creative Commons Attribution 4.0 International License.
