Ортогональний амплітудно-фазовий метод вимірювання при проектуванні вихрострумових дефектоскопів на базі мікроконтролерів

Автор(и)

  • Віктор Григорович Баженов Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут імені Ігоря Сікорського» пр. Перемоги, 37, м. Київ, Україна, 03056, Ukraine
  • Костянтин Анатолійович Гльойнік Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут імені Ігоря Сікорського» пр. Перемоги, 37, м. Київ, Україна, 03056, Ukraine
  • Сергій Васильович Ходневич Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут імені Ігоря Сікорського» пр. Перемоги, 37, м. Київ, Україна, 03056, Ukraine

Ключові слова:

вихрострумовий дефектоскоп, ортогональний метод, синтезатор частоти, вихрострумовий перетворювач, прямий синтез, мікроконтролер, DSP процесор, LabVIEW, аналого-цифровий перетворювач, фільтр нижніх частот.

Анотація

В даній статті розглянуті особливості використання ортогональних методів вимірювання параметрів сигналів при проектуванні вихрострумових дефектоскопів (ВД) на базі мікроконтролерів. Аналізується запропонована авторами нова структура дефектоскопа, яка має один вимірювальний канал, реалізує ортогональний метод вимірювання, має дуже мале енергоспоживання, малі габарити і відповідну вартість. Проведені  експериментальні дослідження запропонованої структури ВД на спеціальному експериментальному макеті, де за допомогою високоточного синтезатора сигналів SDG102, фірми SIGLENT, проведено імітацією можливих дефектів які можуть призводити як до зміни фази так і амплітуди вимірювального сигналу, що підтвердило високі метрологічні можливості цієї структури.

Біографії авторів

Віктор Григорович Баженов, Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут імені Ігоря Сікорського» пр. Перемоги, 37, м. Київ, Україна, 03056

кандидат технічних наук, доцент афедри Приладів та систем неруйнівного контролю

Костянтин Анатолійович Гльойнік, Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут імені Ігоря Сікорського» пр. Перемоги, 37, м. Київ, Україна, 03056

аспірант кафедри Приладів та систем неруйнівного контролю

Сергій Васильович Ходневич, Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут імені Ігоря Сікорського» пр. Перемоги, 37, м. Київ, Україна, 03056

магістрант кафедри Приладів та систем неруйнівного контролю

Посилання

Pestryakov, V. B. (1968). Fazovye radiotekhnicheskie sistemy (osnovy statisticheskoy teorii). Moscow: Sov. Radio, 468.

Bazhenov, V. H., Hloinik, K. A. (2017). Pat. No. 118164 UA. Vykhrostrumovyi amplitudno-fazovyi sposib neruinivnoho kontroliu. MPK (2017.01) G01N27/01. No. u2017 01264; published: 25.07.2017, Bul. No. 14.

Bazhenov, V., Protasov, A., Gloinik, K. (2017). Increasing of operation speed of digital eddy current defectoscopes based on frequency synthesizer. 2017 IEEE Microwaves, Radar and Remote Sensing Symposium (MRRS). doi: 10.1109/mrrs.2017.8075051

Bazhenov, V. H., Klymashevskaia, V. M., Hloinik, K. A. (2009). Pat. No. 45908 UA. Tsyfrovyi bahatofunktsionalnyi vykhrostrumovyi defektoskop. MPK G01N27/00. published: 25.11.2009, Bul. No. 14.

Uchanin, V. M. (2013). Nakladni vykhrostrumovi peretvoriuvachi podviinoho dyferentsiiuvannia. Lviv: SPOLOM, 268.

Uolt, K. (2010). Proektirovanie sistem cifrovoy i smeshanoy obrabotki signalov. Moscow: Tekhnosfera, 328.

Merfi, E., Sletteri, K. (2005). Vse o sintezatorah DDS. Komponenty i Tekhnologii, 1.

Evstifeev, A. V. (2004). Mikrokontrollery AVR semeystv Tiny i Mega firmy «Atmel». Moscow: Izdatel'skiy dom «Dodeka-ХХI», 560.

Bazhenov, V. H., Hloinik, K. A. (2016). Design features of eddy current flaw detectors on the microcontrollers. Scientific proceedings NDT days 2016 XXХI International Conference «Defectoscopia 16». Sozopol, Bulgaria.

Gerasimov, V. G., Pokrovskiy, A. D., Suhorukov, V. V.; Suhorukov, V. V. (Ed.) (1992). Nerazrushayushchiy kontrol'. Kn. 3. Elektromagnitnyy kontrol'. Moscow: Vysshaya shkola, 312.

##submission.downloads##

Опубліковано

2018-02-28

Номер

Розділ

Автоматизація та управління механіко-технологічними системами та комплексами